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與VCSE市場中的一家重要公司進行合作，Unity-SC能夠通過分別出只有利用LIGHTsEE PSD?才能讓缺陷可見的晶圓，來提升前者的良率。
如果不能被檢測出來，那么這些缺陷能夠導致在流程后期/系統(tǒng)交付后出現(xiàn)故障。
法國格勒諾布爾2019年7月18日 /美通社/ -- 過去十年來，由于具有獨一無二的光學和電氣特性，并且具備生產線上測試和可制造性上面的高度優(yōu)勢，VCSEL（垂直腔面發(fā)射激光器）在眾多領域吸引了越來越多的關注。大部分VCSEL基于紅光到紅外波長的砷化鎵晶圓，如今被廣泛地用于激光雷達和3D識別技術。由于汽車領域的應用，激光雷達市場現(xiàn)在迅速發(fā)展，對不會出現(xiàn)故障的設備的需求也同步迅速增長。3D傳感也帶來了一個非常大的市場，智能手機制造商現(xiàn)在為進行人臉識別而嵌入此類傳感器。因此，對高品質、高可靠性的砷化鎵檢測系統(tǒng)的需求一直都在增長。
除了常見的掃描表面檢查系統(tǒng)(SSIS)和自動光學檢測(AOI)系統(tǒng)以外，UnitySC還展現(xiàn)了其在檢測其它方法所無法看見的表面形貌缺陷方面的獨特能力。由于不會對光進行散射/吸收，而且只能通過其表面形貌情況來予以識別，這些缺陷在標準光學檢測系統(tǒng)中不可見。雖然這些缺陷對基板本身的結構質量影響不大，但是它們卻能導致在流程后期讓設備出現(xiàn)故障。例如，在生產布拉格(Bragg)光柵反射器期間，這些表面形貌上面的缺陷能夠讓布拉格周期出錯，在某些特定情況下，還會出現(xiàn)應力誘導裂紋。這些故障會在制造過程中或是系統(tǒng)交付后遇熱/遇壓時出現(xiàn)，導致整個系統(tǒng)出現(xiàn)故障。
借助被嵌入LIGHTsEE?系列中的Phase Shift Deflectometry（相移測量偏折術，簡稱“PSD”）技術，這些缺陷能夠被輕松地檢測出來。PSD能夠提供高度靈敏度低于5納米的整片非接觸式高吞吐量解決方案。由于無需移動基板就能進行檢測，新技術不會產生應力，而且適用于任何脆弱的基板。
這種技術在一位主要VCSEL制造商上面進行了展示，并能通過系統(tǒng)性地抑制由此類缺陷所影響的裸片問題，展現(xiàn)出良率的提升和設備故障率的降低。因此，通過在未來的質量控制中使用PSD，VCSEL制造商就能進一步提升他們的良率，改進他們的供應鏈。
